葫芦娃黄色网站,葫芦娃污APP,葫芦娃视频APP黄,葫芦娃污视频下载

      产品展示

      您现在的位置：首页>产品展示>工业分析>半导体光学参数检测

      晶圆缺陷参数检测 : 非接触测试解决方案

      • 产品型号：
      • 产品时间：2024-07-11
      • 简要描述：晶圆缺陷参数检测 : 非接触测试解决方案，基于我司自主研发的激光自动聚焦、自动化显微成像、宽场荧光成像、共焦光致发光和拉曼葫芦娃污APP等核心测试技术，联合白光干涉等其它 3D 测量技术，定制化的半导体参数测试解决方案。获得从粗糙度、图形尺寸和膜厚等几何参数，到位错、层错等缺陷，再到发光波长、寿命、载流子浓度、组分和应力等物理参数的综合测试系统。
      • 产品介绍

      全晶圆半导体参数非接触测试解决方案

      Full-wafer Noncontac Measuring Solutions forSemiconductor Parameters

      基于我公司自主研发的激光自动聚焦、自动化显微成像、宽场荧光成像、共焦光致发光葫芦娃污APP和共焦拉曼葫芦娃污APP等核心测试技术和模组，联合白光干涉等其它 3D 测量技术，根据客户的需求灵活组合相应的技术搭配，为客户开发定制化的半导体参数测试解决方案，获得从粗糙度、图形尺寸和膜厚等几何参数，到位错、层错等缺陷，再到发光波长、寿命、载流子浓度、组分和应力等物理参数的综合测量，实现无需任何前处理的全晶圆无损自动化检测。

      晶圆缺陷参数检测 : 非接触测试解决方案



      留言框

      • 产品：

      • 您的单位：

      • 您的姓名：

      • 联系电话：

      • 常用邮箱：

      • 省份：

      • 详细地址：

      • 补充说明：

      • 验证码：

        请输入计算结果（填写阿拉伯数字），如：三加四=7

      北京葫芦娃黄色网站仪器有限公司 版权所有    备案号：京ICP备41592779号-4

      技术支持：化工仪器网    管理登陆    网站地图

      联系电话：
      010-5637 0168-696

      微信服务号

      网站地图